宇時UM-5超聲波掃描測厚儀,彩色實時A/B掃描，過零測量技術，可設置增益、消隱、閘門、范圍、延時、射頻、倒向射頻、正半波、負半波、全波、更新率、B掃描Z大/Z小值等多種參數，耦合或報警時厚度值和波形顏色動態改變。

宇時UM-5D超聲波掃描測厚儀,包含UM-5的所有特性：彩色實時A/B掃描，過零測量技術，可設置增益、消隱、閘門、范圍、延時、射頻、倒向射頻、正半波、負半波、全波、更新率、B掃描Z大/Z小值等多種參數，耦合或報警時厚度值和波形顏色動態改變。增加回波-回波測量模式，用于穿透涂層測量基材厚度，標配TC510穿透涂層探頭。

宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀,包含UM-5D的所有特性：回波-回波測量模式,穿透涂層測量,彩色實時A/B掃描,過零測量技術,可設置增益、消隱、閘門、范圍、延時、射頻、倒向射頻、正半波、負半波、全波、更新率、B掃描Z大/Z小值等多種參數,耦合或報警時厚度值和波形顏色動態改變。增加大容量數據記錄器，包含通訊軟件及USB通訊電纜,標配TC510穿透涂層探頭。

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