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宇時UM-4超聲波測厚儀,真彩320*240點陣高分辨率顯示器，A-掃描快照，過零測量技術，增益三檔可調，Z大/Z小值捕獲，差值/縮減率模式，高/低限報警，內置多種探頭補償線，厚度值顏色伴隨耦合或報警而動態改變。

宇時UM-4D超聲波測厚儀,包含UM-4的所有特性，增加回波-回波測量模式，用于穿透涂層測量基材厚度，標配TC510穿透涂層探頭。真彩320*240點陣高分辨率顯示器，A-掃描快照，過零測量技術，增益三檔可調，Z大/Z小值捕獲，差值/縮減率模式，高/低限報警，內置多種探頭補償線，厚度值顏色伴隨耦合或報警而動態改變。

宇時UM-4DL超聲波測厚儀,包含UM-4D的所有特性，增加大容量數據記錄器（可存儲10萬個厚度值），隨機包含通訊軟件及USB通訊電纜，標配TC510穿透涂層探頭。真彩320*240點陣高分辨率顯示器，A-掃描快照，過零測量技術，增益三檔可調，Z大/Z小值捕獲，差值/縮減率模式，高/低限報警，內置多種探頭補償線，厚度值顏色伴隨耦合或報警而動態改變。