直讀式
鐵損測試儀，是和日本SOKEN公司雙方合作開發(fā)的機(jī)種，擴(kuò)展了可任意調(diào)節(jié)測試試樣寬度和自校準(zhǔn)等功能,用于硅鋼片鐵損值的現(xiàn)場檢測。可廣泛使用在硅鋼片生產(chǎn)廠家、流通領(lǐng)域、馬達(dá)、變壓器及其他利用硅鋼片制造產(chǎn)品的品質(zhì)管理，包括出貨、進(jìn)貨和成品抽樣檢驗(yàn)，原材料及沖壓后成形的單片均可測試。
鐵損測試儀克服了傳統(tǒng)硅鋼檢驗(yàn)時(shí)，對(duì)硅鋼形狀的測試要求，無需專門制作測試試樣。本儀器結(jié)合國內(nèi)外同類產(chǎn)品的優(yōu)缺點(diǎn)，進(jìn)行了一些改進(jìn)；主要解決了國外產(chǎn)品測試誤差大、國內(nèi)產(chǎn)品靈敏度差等缺點(diǎn)。*的交流正弦測試電源設(shè)計(jì)，提升了儀器的抗干擾性。
總研DAC-IR-2C直讀式鐵損測試儀的技術(shù)參數(shù)：
·測試范圍：0.10～19.99 W/kg；
·磁通密度：按測試標(biāo)準(zhǔn)1.5T (無取向Non Oriented)；
1.7T (取向Oriented Grain) 兩檔切換；
·試樣厚度：0.10～0.99mm；
·試樣長度：20mm以上；
·試樣寬度：zui小2mm；5mm以上保證設(shè)計(jì)精度，形狀不規(guī)則(非長方形)的復(fù)雜沖壓片，可任意設(shè)定相近的有效寬度；
·測試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；
·測試頻率：50Hz；
鐵損測試儀如果該U型磁鐵的磁路斷面面積比試片內(nèi)磁路斷面面積大許多時(shí)，則激磁線圈加電壓時(shí)所產(chǎn)生的激磁電流與磁通檢出線圈上產(chǎn)生的電壓乘積即為試片內(nèi)之損耗。本測定器備有試片和測定用磁能密度選擇開關(guān)，選擇、設(shè)定后，試片的鐵損值便可立即讀出。鐵損值可由此式得知：鐵損=試片內(nèi)損耗/試片內(nèi)磁路部分的有效重量。
更新時(shí)間：2016-08-18 
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